一般虚焊都是由于回流焊接过程不充分造成的。在回流焊接过程中,焊料球与锡膏没有形成良好地熔融,无法形成润湿良好的共晶体。虚焊是一种不容忽视的缺陷,它不仅容易造成器件脱落,影响器件的电气性能,更会给常规的电性能检验带来阻碍。虚焊缺陷也必须通过旋转X射线角度进行检验,从而及时采取有效措施避免它的发生。BGA器件的虚焊类型一般有“腰型”焊接连接、“枕窝型”焊接连接、“塔型”焊接连接三种类型。
“腰型”焊接连接表明焊料球与锡膏在回流焊接时均未充分熔化,这种焊接连接在X射线影像区内,焊料球部分往往呈现规则的圆球状,焊料球底部与焊盘连接的部位呈现细腰型,如上图所示。
“枕窝型”焊接连接一般是在回流焊接过程中锡膏已经熔融,但BGA焊料球熔融不充分,焊接连接处呈现“枕窝状”,如上图所示。
“塔型”焊接连接的形状介于“腰型”焊接连接与“枕窝型”焊接连接之间,其形成原因也是由于回流焊接过程中锡膏已熔融,但BGA焊料球未熔融完全,形成的焊点不规则,呈现底部大,中间部分堆叠,顶部为球形的形状,如上图所示。
随着新技术的发展,超高分辨率、智能化的Xray检验设备不仅会为BAG器件组装提供省时、省力、可靠的保障,也能够在电子产品故障分析中扮演重要的角色,提高故障排查效率。