在现代工业生产中,产品质量是企业发展的生命线。尤其对于芯片电阻焊点、陶瓷滤波器、电池、汽车换挡盖等关键零部件,其内部的微小缺陷都可能导致严重的质量问题,甚至引发安全隐患。传统的破坏性检测方法不仅成本高昂,还会对产品造成损伤。工业微焦点X射线计算机断层扫描(Micro-XCT)技术应运而生,为各行业带来了革命性的无损三维检测解决方案。
骅飞工业Micro-XCT技术,已是产品无损检测的成熟方法。它如同为产品装上了一双“透视眼”,能够无损地透视产品内部,三维立体地呈现其内部结构,高精度地识别各种潜在缺陷,例如:
↑芯片电阻焊点:精准检测焊点内部的空洞、气泡、虚焊、断裂等问题,确保电子产品的电气连接可靠性。
↑陶瓷滤波器:清晰呈现陶瓷体内部的裂纹、孔隙、杂质、密度不均匀等缺陷,保障滤波器的性能和稳定性。
↑电池:全面分析电池内部电极片错位、隔膜破损、异物侵入、电解液分布不均等异常,保障电池的安全性和使用寿命。
↑汽车换挡盖:有效识别换挡盖内部的裂纹、气孔、夹杂物、壁厚不均等缺陷,提升汽车零部件的强度和耐久性。
无损检测:无需破坏样品,即可全面了解产品内部结构,适用于珍贵样品或需要进行后续分析的产品。
三维可视化:生成产品的三维体积模型,可以从任意角度观察和分析内部缺陷,信息更全面、更直观。
高空间分辨率:能够捕捉微米级的细微缺陷,满足高精度检测需求。
多功能应用:除了缺陷检测,还可以进行尺寸精度分析、孔隙率分析、材料均匀性分析、几何尺寸测量等多种应用。
广泛的适用性:可检测各种材质和尺寸的样品,从微小的电子元件到大型的汽车零部件,甚至艺术品和化石。
快速高效:检测过程快速,测量完成后立即生成三维数据,大幅缩短检测周期。
Micro-XCT设备的核心在于X射线管、探测器和高精度旋转台的协同运作。被测样品放置于旋转台上,在X射线照射下进行360°旋转扫描。探测器记录各个角度的X射线投影数据,计算机集群对这些数据进行高速重建,最终生成样品的三维体积模型。科学家和工程师可以通过专业的软件,对三维模型进行切片分析、缺陷识别、尺寸测量等操作,并以截面图像或三维动画的形式呈现检测结果,方便快捷。
对于电子产品制造商、陶瓷产品生产商、电池生产企业、汽车零部件供应商以及其他对产品质量有高要求的企业来说,引入工业Micro-XCT技术无疑将大幅提升产品质量、降低质量风险、增强市场竞争力。