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X-RAY检测芯片半导体PQFP封装的内部缺陷
文章来源:骅飞科技XRAY 发布时间: 2022-11-16
PQFP封装与DIP、BGA、PGA、CSP等封装方式一样,均被广泛运用于芯片封装领域,对于不同引脚数、不同规格的IC芯片所采用的封装方式不同,比如采用DIP封装的芯片引脚数一般不多于100个, 而PQFP封装的芯片引脚之间距离很小,管脚很细,一般大规模或超大型集成电路都采用这种封装形式,其引脚数一般在100个以上,还有一个与PQFP类似的封装PFP,其封装方式基本相同,唯一的区别是PQFP是正方形,而PFP可以是正方形、也可以是长方形。

PQFP封装一般用于大规模或超大规模的集成电路,而且必须采用SMD技术将芯片与主板焊接,SMD焊接后如果需要拆卸,需要用到专业的工具方可将芯片拆下来。
IC封装完成后,如果检测采用传统的AOI光学仪器是无法检测的,需要使用X-RAY检测设备,其采用X射线可穿透技术,通过透射来达到无损检测的目的。
如下图:
Xray检测PQFP步骤-自动检测技术-良品及缺陷类型影像

我们可以看到一些半导体IC的缺陷类型,通过X-RAY检查机可以发现很多我们从来没有预想的问题,其不但可以提升产品品质、而且还能提升企业品牌形象,将产品质量始终放在第一位,让客户放心。

目前骅飞科技推出在线X-RAY检测设备与离线X-RAY检查机,对于需要全检的企业可以采用在线式,对接生产线,整个检测作业过程无需人工干预,自主作业方便快捷省人工,离线式XRAY主要用于抽检作业或者小批量产品检测需要。

公司简介:骅飞科技13年专业从事离线X-RAY检测设备与在线X-RAY检测设备研发生产与销售,十多年来励精图治,得到了艾华集团、通宇通讯、深圳长城开发等一系列大型企业的支持。
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13年X-ray设备制造商
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