X射线的发现源于1895年,物理学家伦琴在研究阴极射线时首次揭示了其存在。随后,科学家们通过深入研究发现,X射线与光一样是一种电磁波。根据量子理论,X射线由光(量)子组成,其能量由以下公式表示:
ε=hν
式中 h——普朗克常数,值为6.626×10-34J·s;
ν——电磁波的频率,Hz。
X射线既具有波动性也具有粒子性,即具有波粒二象性。
当高速电子撞击X射线管中的阳极靶时,会产生X射线。根据X射线的波长分布,它可以分为连续谱和特征谱。
连续谱是指强度随波长连续分布的辐射,产生于电子与靶物质的轫致辐射过程中,其强度与管电压、管电流、阳极靶物质的原子序数等因素相关。X射线强度与这些变量的关系可以由以下经验公式表示:
I=αiZVm
式中 I——连续谱X射线总强度;
i——管电流;
Z——阳极靶物质的原子序数;
V——管电压;
α——比例常数,当管电压的单位取kV、管电流的单位取mA时,其值约为(1.1~1.4)×10-6;
m——常数,值约为2。
曲线从里到外依次为:16.4keV,24.0keV,31.0keV,37.8keV
该式表明,特征谱的频率与靶物质原子序数和屏蔽效应常数之间的关系密切。这些特征谱对于物质成分的定量和定性分析具有重要意义。
X射线的穿透能力取决于其波长和能量,硬X射线能够穿透厚重的金属材料,而软X射线适用于较轻质材料的检测(硬X射线能够穿透厚重金属、密度较大的材料,常用于工业无损检测如焊接接头、铸件内部缺陷等。软X射线能量相对较低,通常用于检测塑料、薄膜、纸张等轻质材料,因为它们对厚重材料的穿透能力不足)。对于制造行业而言,了解X射线设备的波长范围与自身产品材料的匹配至关重要。选择合适的X射线设备不仅可以提高检测效率,还能避免因穿透不足或过度穿透导致的误检。
X射线谱中的连续谱和特征谱在工业检测中起着不同的作用。连续谱X射线用于宏观检测,如大范围缺陷检测和轮廓扫描;而特征谱的精确检测则适合识别微小的材料成分或检测物体内部的隐秘缺陷。所以应重点关注设备的调控能力,以确保在特定的应用场景中,设备能够优化这两种谱的强度和分布。例如,对于材料厚度较大的工件,调节X射线的管电压和电流,以增强连续谱的强度,从而提高宏观检测的效果。而在高精度应用中,设备需提供清晰的特征谱,以识别特定元素或微小缺陷。
X射线设备的检测精度取决于其产生的X射线的能量分布、射线束的聚焦能力以及图像处理技术。高精度的设备能够更好地识别材料中的微小裂缝、空隙或不均匀性,这在半导体、电子元件以及汽车零部件的质量控制中至关重要。
尽管X射线设备能够提供非接触式的无损检测,但其潜在的辐射风险要求严格的防护措施。需确保设备具备完善的防辐射设计,且设备操作简便,能在保证安全的前提下提升工作效率。
X射线检测设备涉及复杂的物理学原理及高端技术,因此供应商的技术支持能力尤为重要。同时,设备在运行过程中的维护和技术支持也会直接影响到其长期使用效果。
X射线的独特物理性质使其成为工业无损检测中不可替代的工具。理解X射线的波动性、穿透能力和光谱特性,有助于更好地选择X-ray缺陷检测设备。通过选购高质量、高性能的X射线检测设备,能够大幅提升产品的质量检测水平,同时确保生产流程的稳定性和高效性。